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電子元器件鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱|鹽霧測(cè)試儀

【規(guī)格/SPEC】 

電子元器件鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱|鹽霧測(cè)試儀控制系統(tǒng)：

☆、電子元器件鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱|鹽霧測(cè)試儀高精度PID控溫儀，誤差為±0.1℃，RKC、OMRON、TEMI880儀表。

☆、溫控儀具有輸出打印功能，打印間隔時(shí)間、打印速度、分別可單獨(dú)進(jìn)行設(shè)定。 

☆、電子元器件鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱|鹽霧測(cè)試儀箱蓋開啟為氣缸起動(dòng)撐捍，開閉時(shí)輕松自如。 

☆、所有電路均裝有斷路器，所有加熱器均帶有電子和機(jī)械過熱保護(hù)裝置。

☆、多重系統(tǒng)保護(hù)，使用安全可靠。

電子元器件鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱|鹽霧測(cè)試儀符合標(biāo)準(zhǔn)：

☆、電子元器件鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱|鹽霧測(cè)試儀符合并適用我國(guó)頒布的專門用于電工電子產(chǎn)品鹽霧試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423.17-1993 GB/T2423.18-2000;用于金屬覆蓋層的鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB6458、GB6459、GB6460;專門用于考核輕工產(chǎn)品電鍍層的鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB 5938、GB5939、GB5940;主要適用于油漆層的鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)GB 

電子元器件鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱|鹽霧測(cè)試儀用途：

☆、電子元器件鹽霧腐蝕實(shí)驗(yàn)箱|鹽霧測(cè)試儀利用含鹽溶液或酸性含鹽溶液,在一定的溫度和相對(duì)的濕度的環(huán)境下對(duì)材料或產(chǎn)品進(jìn)行加速腐蝕,重現(xiàn)材料或產(chǎn)品在一定時(shí)間范圍內(nèi)所遭受的破壞程度。設(shè)備可以用來(lái)考核材料及其防護(hù)層的抗鹽霧腐蝕的能力,以及相似防護(hù)層的工藝質(zhì)量比較,也可以用來(lái)考核某些產(chǎn)品抗鹽霧腐蝕的能力。